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ZEISS METROTOM
ZEISS METROTOM

ZEISS METROTOM

用于質量保證的三維 X 射線測量技術
產品詳情

第三代新款蔡司METROTOM 1500

面向未來的質量控制——今天

十二年來,蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描(CT)系統蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天,您可以使用面向未來的質量控制。


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看得更多。


在第三代系統中,新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集,即更多體素可以檢測到更小的缺陷。



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蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小,新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細節。



掃描更快。

通過檢測器的不同操作模式,掃描時間可減少多達75%,同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。


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